Using pulsed-latch scan chains for non-destructive ASIC testing
- Bernardo Rodriguez-Hall
- , Alfonso Chacon-Rodriguez
- , Renato Rimolo-Donadio
- , Ronny García-Ramírez
- Costa Rica Institute of Technology
- Rydev Inc.
Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva