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Using pulsed-latch scan chains for non-destructive ASIC testing

Título traducido de la contribución: Uso de cadenas de escaneo de pestillo pulsado para pruebas ASIC no destructivas
  • Costa Rica Institute of Technology
  • Rydev Inc.

Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congresoContribución a la conferenciarevisión exhaustiva

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Uso de cadenas de escaneo de pestillo pulsado para pruebas ASIC no destructivas'. En conjunto forman una huella única.
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Computer Science